almost all the main diffraction pat

almost all the main diffraction patterns of the prepared films. Step scanning
with step size of 0.02o
(2θ) and scan speed 0.05 degree/second were used for
the entire 2-range. No peaks were observed for SiO2 and TiO2 thin films as
shown in Fig. 5.5 and Fig. 5.6, and amorphous structure can be observed, as
anticipated from the analysis of AFM and SEM images of these films.

النتائج (العربية) 1:

تقريبا جميع أنماط الحيود الرئيسية من الأفلام المعدة. خطوة المسح الضوئيمع حجم الخطوة 0.02o(2θ) واستخدمت درجة 0.05 في الثانية لسرعة المسح الضوئي2--مجموعة كاملة. لم يلاحظ أي قمم للأغشية الرقيقة SiO2 و TiO2الشكل 5، 6، هو مبين في الشكل 5.5 وهيكل متبلور يمكن ملاحظته، كماومن المتوقع من تحليل الصور فؤاد ووزارة شؤون المرأة لهذه الأفلام.

النتائج (العربية) 2:

تقريبا كل أنماط الحيود الرئيسية من الأفلام المعدة. خطوة المسح
مع حجم خطوة من 0.02o
(2θ) والمسح الضوئي بسرعة 0.05 درجة / الثانية استخدمت ل
كامل 2 المدى. لم يلاحظ أي قمم للأفلام رقيقة SiO2 وTIO2 كما
هو مبين في الشكل. 5.5 والشكل. 5.6، وهيكل غير متبلور يمكن ملاحظتها، كما
كان متوقعا من تحليل فؤاد ووزارة شؤون المرأة صورا لهذه الأفلام.