The surface morphology of the as de

The surface morphology of the as deposited films was checked using
Atomic Force Microscopy (AFM) (VEECO 3100). The AFM images show very
smooth surfaces for the SiO2 and TiO2 films as shown in figures 5.1 and 5.2
respectively. The SiO2 film demonstrates an optically flat surface with an
average and RMS values for the surface roughness of 8.77 and 11.05 Å
respectively. As for TiO2 film, a smother film was deposited with an average
and RMS values for the surface roughness of 3.34 Å and 4.18 Å respectively.
However, from the roughness measurements the surface is smooth enough for
the desired application. From these observations it is expected that in
multilayer structures the interfaces are likely to be sharp, minimizing the
effect of absorption or scattering at the surface or interfaces.

النتائج (العربية) 1:

تم فحص مورفولوجية السطح من الأفلام المودعة استخداممجهر القوة الذرية (AFM) (فيكو 3100). إظهار الصور فؤاد جداًأسطح ناعمة لأفلام SiO2 و TiO2 كما هو موضح في الشكلين 5.1 و 5.2على التوالي. يوضح الفيلم SiO2 سطح مستو بصريا معالمتوسط وقيم RMS لخشونة السطح 8.77 و 11.05 Åعلى التوالي. أما بالنسبة للفيلم TiO2، وأودع فيلما طها مع متوسطوتقدر RMS لخشونة السطح 3.34 Å و 4.18 Å على التوالي.ومع ذلك، من قياسات خشونة السطح السلس ما يكفيالتطبيق المطلوب. ويتوقع من هذه الملاحظات فيهياكل متعددة الطبقات الواجهات من المحتمل أن تكون حادة والتقليل إلى أدنى حدتأثير الامتصاص أو نثر في السطح أو في الواجهات.

النتائج (العربية) 2:

تم فحص مورفولوجيا السطح من الأفلام كما أودعت باستخدام
مجهر القوة الذرية (AFM) (VEECO 3100). وتظهر الصور AFM جدا
الأسطح الملساء للأفلام SiO2 وTIO2 كما هو مبين في أرقام 5.1 و 5.2
على التوالي. يوضح الفيلم SiO2 على سطح مستو بصريا مع
المتوسط ​​وRMS قيم خشونة سطح 8.77 و 11.05 Å
على التوالي. أما بالنسبة لفيلم TIO2، أودع فيلم خنق بمتوسط
​​وRMS قيم خشونة سطح 3.34 Å و4.18 Å على التوالي.
ومع ذلك، من القياسات خشونة السطح على نحو سلس بما فيه الكفاية بالنسبة
التطبيق المطلوب. من هذه الملاحظات ومن المتوقع أنه في
هياكل متعددة الطبقات من المرجح أن تكون حادة واجهات، والتقليل من
تأثير امتصاص أو نثر على سطح أو واجهات.

النتائج (العربية) 3:

مورفولوجيا سطح كما تودع الافلام تم التأكد من ذلك باستخداممجهر القوة الذرية (afm) (ويكو 3100).AFM الصور تظهر بكلالأسطح الملساء على رمال السيليكا و الأفلام TiO2 كما يتضح من الشكلين 5-1 و 5-2على التوالي.السيليكا فلم يظهر بصريا سطح مستو معمتوسط و RMS القيم على خشونة السطح من ٨, ٧٧ و 05 الحوارعلى التوالي.أما عن فيلم TiO2، فلم اختنق أودعت متوسطو RMS القيم على خشونة السطح من 3-34 المعهد 4-18 المعهد، على التوالي.ومع ذلك، من قياس خشونة السطح هو لطيف بما يكفي بالنسبةالتطبيق المطلوب.من هذه الملاحظات ومن المتوقع أنمتعدد الطبقات الهياكل واجهات من المرجح أن تكون حادة، والتقليل منتأثير الامتصاص أو التشتت في السطح أو البينية.