The X-ray diffraction (XRD) studies

The X-ray diffraction (XRD) studies for the two films were carried out by
PANalytical/X'pert PRO X-ray diffractometer. Cu-K radiation ( = 0.1540
nm) at 45 kV and 40mA was used. The 2 range (4 – 70o
) was chosen to cover
almost all the main diffraction patterns of the prepared films. Step scanning
with step size of 0.02o
(2θ) and scan speed 0.05 degree/second were used for
the entire 2-range. No peaks were observed for SiO2 and TiO2 thin films as
shown in Fig. 5.5 and Fig. 5.6, and amorphous structure can be observed, as
anticipated from the analysis of AFM and SEM images of these films

النتائج (العربية) 1:

أجريت دراسات حيود الأشعة السينية (XRD) لاثنين من الأفلام من قبلديفراكتوميتير باناليتيكال/X'pert "برو الأشعة السينية". كو-K الإشعاع ( = 0.1540شمال البحر الأبيض المتوسط) في 45 كيلوفولت و 40mA تم استخدامه. مجموعة 2 (4 – 70o) وقد اختير لتغطية تقريبا جميع أنماط الحيود الرئيسية من الأفلام المعدة. خطوة المسح الضوئيمع حجم الخطوة 0.02o(2θ) واستخدمت درجة 0.05 في الثانية لسرعة المسح الضوئي2--مجموعة كاملة. لم يلاحظ أي قمم للأغشية الرقيقة SiO2 و TiO2الشكل 5، 6، هو مبين في الشكل 5.5 وهيكل متبلور يمكن ملاحظته، كماكان متوقعا من تحليل الصور فؤاد ووزارة شؤون المرأة لهذه الأفلام

النتائج (العربية) 2:

نفذت حيود الأشعة السينية (XRD) دراسات لفيلمين من قبل
PANalytical / X'pert PRO الأشعة السينية ديفراكتوميتر. النحاس وK الإشعاع ( = 0.1540
استخدمت نانومتر) في 45 كيلو فولت و40MA. - مجموعة 2 (70o 4
تم اختياره لتغطية)
تقريبا كل أنماط الحيود الرئيسية من الأفلام المعدة. خطوة المسح
مع حجم خطوة من 0.02o
(2θ) والمسح الضوئي بسرعة 0.05 درجة / الثانية استخدمت ل
كامل 2 المدى. لم يلاحظ أي قمم للأفلام رقيقة SiO2 وTIO2 كما
هو مبين في الشكل. 5.5 والشكل. 5.6، وهيكل غير متبلور يمكن ملاحظتها، كما
كان متوقعا من تحليل فؤاد ووزارة شؤون المرأة صورا لهذه الأفلام